Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of boron in silicon
NORMA vydaná dňa 21.5.2021
Označenie normy: GB/T 40109-2021
Dátum vydania normy: 21.5.2021
Kód tovaru: NS-1032150
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Posledná aktualizácia: 2026-05-04 (Počet položiek: 2 275 493)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.