Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
GB/T 33657-2017
Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells
NORMA vydaná dňa 12.5.2017
Informácie o norme:
Označenie normy: GB/T 33657-2017
Dátum vydania normy: 12.5.2017
Kód tovaru: NS-815125
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
