NEPLATNÁ GB/T 32280-2015 10.12.2015 náhľad

GB/T 32280-2015

Test method for warp of silicon wafers—Automated non-contact scanning method



NORMA vydaná dňa 10.12.2015


Jazyk
Prevedenie
Dostupnosťdo 3 pracovných dní
Cena485.50 bez DPH
485.50

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 32280-2015
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.12.2015
Kód tovaru: NS-649069
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.