Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
GB/T 31225-2014
Test method for the thickness of silicon oxide on Si substrate by ellipsometer
Automaticky preložený názov:
Skúšobná metóda pre hrúbkou oxidu kremíka na Si substráte elipsometr
NORMA vydaná dňa 30.9.2014
Informácie o norme:
Označenie normy: GB/T 31225-2014
Dátum vydania normy: 30.9.2014
Kód tovaru: NS-367011
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
