Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Test method for measuring diameter of monocrystalline silicon carbide wafers
Automaticky preložený názov:
Skúšobná metóda na meranie priemeru monokryštalického kremíka karbidu plátkov
NORMA vydaná dňa 24.7.2014
Označenie normy: GB/T 30866-2014
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 24.7.2014
Kód tovaru: NS-366611
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Posledná aktualizácia: 2026-11-11 (Počet položiek: 2 209 289)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.