Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Surface chemical analysisChemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Automaticky preložený názov:
Surface chemický analysis '? Hemická metódy pre zber prvkov z povrchu kremíka plátku pracovné referenčné materiály a ich odhodlanie tým, celková-odraz X-ray fluorescencie (TXRF) spektroskopia
NORMA vydaná dňa 27.3.2014
Označenie normy: GB/T 30701-2014
Dátum vydania normy: 27.3.2014
Kód tovaru: NS-366429
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Posledná aktualizácia: 2026-06-30 (Počet položiek: 2 285 193)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.