Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
GB/T 29507-2013
Test method for measuring flatness, thickness and total thickness variation on silicon wafers by automated non-contact scanning
Automaticky preložený názov:
Skúšobná metóda na meranie rovinnosti, hrúbky a celkové variácie hrúbky na kremíkových plátkov pomocou automatickej bezkontaktné snímanie
NORMA vydaná dňa 9.5.2013
Informácie o norme:
Označenie normy: GB/T 29507-2013
Dátum vydania normy: 9.5.2013
Kód tovaru: NS-365295
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
