Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
GB/T 26068-2010
Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers by non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance
NORMA vydaná dňa 10.1.2011
Informácie o norme:
Označenie normy: GB/T 26068-2010
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.1.2011
Kód tovaru: NS-881201
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Doporučujeme:
