Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
GB/T 24577-2009
Test methods for analyzing organic contaminants on silicon wafer surfaces by thermal desorption gas chromatography
NORMA vydaná dňa 30.10.2009
Informácie o norme:
Označenie normy: GB/T 24577-2009
Dátum vydania normy: 30.10.2009
Kód tovaru: NS-879442
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
