Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Guideline for programmed defect masks and benchmark procedures for sensitivity analysisof mask defect inspection systems
NORMA vydaná dňa 13.9.1999
Označenie normy: GB/T 17866-1999
Dátum vydania normy: 13.9.1999
Kód tovaru: NS-870589
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-06-23 (Počet položiek: 2 284 357)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.