Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
GB/T 17866-1999
Guideline for programmed defect masks and benchmark procedures for sensitivity analysisof mask defect inspection systems
NORMA vydaná dňa 13.9.1999
Informácie o norme:
Označenie normy: GB/T 17866-1999
Dátum vydania normy: 13.9.1999
Kód tovaru: NS-870589
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
