Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Test method for the surface quality of polished silicon wafers and epitaxial wafers by optical-reflection
NORMA vydaná dňa 22.12.1997
Označenie normy: GB/T 17169-1997
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 22.12.1997
Kód tovaru: NS-869433
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Posledná aktualizácia: 2026-02-04 (Počet položiek: 2 259 933)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.