Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes
Automaticky preložený názov:
Spôsob čisté hustotu dopravcu v kremíku epitaxných vrstiev napätie-kapacitné bránou a ungated diódami
NORMA vydaná dňa 31.12.2013
Označenie normy: GB/T 14863-2013
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 31.12.2013
Kód tovaru: NS-349395
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Posledná aktualizácia: 2025-11-06 (Počet položiek: 2 243 364)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.