Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Standard test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes
NORMA vydaná dňa 30.12.1993
Označenie normy: GB/T 14863-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 30.12.1993
Kód tovaru: NS-865766
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Posledná aktualizácia: 2026-01-26 (Počet položiek: 2 257 479)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.