Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Silicon epitaxial layers-determination of carrier concentration-mercury probe voltages-capacitance method
NORMA vydaná dňa 30.10.2009
Označenie normy: GB/T 14146-2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 30.10.2009
Kód tovaru: NS-864363
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Posledná aktualizácia: 2025-07-02 (Počet položiek: 2 207 218)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.