NEPLATNÁ GB/T 14145-1993 6.2.1993 náhľad

GB/T 14145-1993

Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference-contrast microscopy



NORMA vydaná dňa 6.2.1993


Jazyk
Prevedenie
Dostupnosťdo 2 pracovných dní
Cena211.10 bez DPH
211.10

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 14145-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 6.2.1993
Kód tovaru: NS-864361
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.