Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference-contrast microscopy
NORMA vydaná dňa 6.2.1993
Označenie normy: GB/T 14145-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 6.2.1993
Kód tovaru: NS-864361
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Posledná aktualizácia: 2025-07-02 (Počet položiek: 2 207 218)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.