Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
General specification test methods for semiconductor device curve tracers
Automaticky preložený názov:
Všeobecné špecifikácie skúšobné metódy pre polovodičové zariadenia indikátorov krivky
NORMA vydaná dňa 31.12.2012
Označenie normy: GB/T 13973-2012
Dátum vydania normy: 31.12.2012
Kód tovaru: NS-348397
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Posledná aktualizácia: 2026-06-02 (Počet položiek: 2 281 347)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.