Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
GB/T 13388-2009
Method for measuring crystallographic orientation of flats on single-crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques
NORMA vydaná dňa 30.10.2009
Informácie o norme:
Označenie normy: GB/T 13388-2009
Dátum vydania normy: 30.10.2009
Kód tovaru: NS-863059
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Kategórie - podobné normy:
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
