Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Method for measuring crystallographic orientation of flats on single crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques
NORMA vydaná dňa 19.2.1992
Označenie normy: GB/T 13388-1992
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 19.2.1992
Kód tovaru: NS-863058
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !
Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-04-08 (Počet položiek: 2 271 105)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.