Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
GB/T 13388-1992
Method for measuring crystallographic orientation of flats on single crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques
NORMA vydaná dňa 19.2.1992
Informácie o norme:
Označenie normy: GB/T 13388-1992
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 19.2.1992
Kód tovaru: NS-863058
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Doporučujeme:
