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Prüfung keramischer Roh- und Werkstoffe - Direkte Bestimmung der Massenanteile von Spurenverunreinigungen in pulver- und kornförmigem Siliciumcarbid mittels optischer Emissionsspektroskopie mit induktiv gekoppeltem Plasma und elektrothermischer Verdampfung (ETV-ICP-OES)
NORMA vydaná dňa 15.7.2024
Označenie normy: E ÖNORM EN 15991
Dátum vydania normy: 15.7.2024
Kód tovaru: NS-1193021
Počet strán: 32
Približná hmotnosť: 96 g (0.21 libier)
Krajina: Rakúska technická norma (Návrh)
Kategória: Technické normy ÖNORM
Dieses Dokument legt ein Verfahren zur Bestimmung der Massenanteile der Elemente Al, Ca, Cr, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, V und Zr in pulver- und kornförmigem Siliciumcarbid fest. Dieses Prüfverfahren gilt in Abhängigkeit von Element, Emissionslinien, Plasmabedingungen und Probenmasse für Massenanteile der o. g. Spurenverunreinigungen von etwa 0,1 mg/kg bis etwa 1 000 mg/kg, nach Prüfung auch von 0,001 mg/kg bis etwa 5 000 mg/kg. ANMERKUNG 1 In der Regel gilt für die optische Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma und elektrothermischer Verdampfung (ETV-ICP-OES) ein linearer Arbeitsbereich von bis zu vier Größenordnungen. Dieser Bereich kann für die einzelnen Elemente durch Änderung der Probenmasse oder durch die Auswahl verschieden empfindlicher Emissionslinien erweitert werden. Nach entsprechender Prüfung ist dieses Dokument auch auf weitere metallische Elemente (mit Ausnahme von Rb und Cs) und einige nichtmetallische Verunreinigungen (wie z. B. P und S) und andere artverwandte nichtmetallische pulver- und kornförmige Werkstoffe, wie z. B. Carbide, Nitride, Graphit, Ruß, Koks, Kohle, sowie eine Reihe weiterer oxidischer Werkstoffe anwendbar (siehe [1] [4] [5] [6] [7] [8] [9] und [10]). ANMERKUNG 2 Es liegen positive Erfahrungen zu Werkstoffen, wie z. B. Graphit, Borcarbid (B4C), Siliciumnitrid (Si3N4), Bornitrid (BN) und verschiedenen Metalloxiden sowie zur Bestimmung von P und S in einigen dieser Werkstoffe vor.
Posledná aktualizácia: 2024-09-01 (Počet položiek: 2 345 425)
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