Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Guideline for gate oxide reliability and robustness evaluation procedures for silicon carbide power mosfets (Fast Track) (IEC 47/3023/CDV) (english version)
NORMA vydaná dňa 1.9.2026
Označenie normy: E ÖVE EN IEC 63470
Dátum vydania normy: 1.9.2026
Kód tovaru: NS-1283176
Počet strán: 30
Približná hmotnosť: 90 g (0.20 libier)
Krajina: Rakúska technická norma (Návrh)
Kategória: Technické normy ÖNORM
Posledná aktualizácia: 2026-10-08 (Počet položiek: 2 304 582)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.