Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
E ÖVE EN IEC 63287-4 (Návrh)
Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans -- Part 4: Early failure assessment (IEC 47/2917/CDV) (english version)
NORMA vydaná dňa 1.7.2025
Informácie o norme:
Označenie normy: E ÖVE EN IEC 63287-4
Dátum vydania normy: 1.7.2025
Kód tovaru: NS-1224830
Počet strán: 16
Približná hmotnosť: 48 g (0.11 libier)
Krajina: Rakúska technická norma (Návrh)
Kategória: Technické normy ÖNORM
Kategórie - podobné normy:
Odporúčame:
EviZak - všetky zákony vrátane ich evidencie na jednom mieste
Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !
Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.
