Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Bias-Temperature Stability Test for MOSFET.
Automaticky preložený názov:
Bias - Teplotná stabilita Skúška na MOSFET.
NORMA vydaná dňa 1.9.2004
Označenie normy: E DIN IEC 62373:2004-09
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.9.2004
Kód tovaru: NS-303958
Počet strán: 19
Približná hmotnosť: 57 g (0.13 libier)
Krajina: Nemecká technická norma (Návrh)
Kategória: Technické normy DIN
Stabilität von MOSFET unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung.
Posledná aktualizácia: 2025-11-02 (Počet položiek: 2 241 942)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.