Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
E DIN IEC 62047-8:2008-05 (Návrh)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové prístroje - Micro - elektromechanické zariadenia - Časť 8 : Strip ohýbanie skúšobnú metódu pre meranie ťahu vlastností tenkých vrstiev.
NORMA vydaná dňa 1.5.2008
Informácie o norme:
Označenie normy: E DIN IEC 62047-8:2008-05
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.5.2008
Kód tovaru: NS-303804
Počet strán: 28
Približná hmotnosť: 84 g (0.19 libier)
Krajina: Nemecká technická norma (Návrh)
Kategória: Technické normy DIN
Anotácia textu normy E DIN IEC 62047-8:2008-05 :
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 8: Streifen-Biege-Prüfverfahren zur Messung von Zugbeanspruchungsmerkmalen dünner Schichten.
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
