Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
E DIN IEC 62047-13:2010-05 (Návrh)
Semiconductor devices - Micro electro mechanical devices - Part 13: Bend- and shear- test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové prístroje - Micro elektro mechanické zariadenia - Časť 13 : ohýbanie a šmyk testovacie metódy merania priľnavosti za štruktúr MEMS.
NORMA vydaná dňa 1.5.2010
Informácie o norme:
Označenie normy: E DIN IEC 62047-13:2010-05
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.5.2010
Kód tovaru: NS-303797
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Nemecká technická norma (Návrh)
Kategória: Technické normy DIN
Anotácia textu normy E DIN IEC 62047-13:2010-05 :
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 13: Biege- und Scherprüfverfahren zur Messung der Haftfestigkeit mikromechanischer Strukturen.
Doporučujeme:
