Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: A method for fatigue testing thin film materials using the resonant vibration of a MEMS structure.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové prístroje - Micro - elektromechanické zariadenia - Časť 12 : Metóda pre únavovej skúšky tenkých filmových materiálov pomocou rezonančné vibrácie štruktúry MEMS.
NORMA vydaná dňa 1.5.2010
Označenie normy: E DIN IEC 62047-12:2010-05
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.5.2010
Kód tovaru: NS-303796
Počet strán: 46
Približná hmotnosť: 138 g (0.30 libier)
Krajina: Nemecká technická norma (Návrh)
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 12: Verfahren zur Prüfung der Ermüdungsfestigkeit von Dünnschichtwerkstoffen unter Verwendung der Resonanzschwingungen bei MEMS-Strukturen.
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2025-07-07 (Počet položiek: 2 207 474)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.