Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
E DIN IEC 60749-40:2009-06 (Návrh)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 40 : Board level pokles skúšobnej metódy pomocou tenzometra.
NORMA vydaná dňa 1.6.2009
Informácie o norme:
Označenie normy: E DIN IEC 60749-40:2009-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.6.2009
Kód tovaru: NS-303092
Počet strán: 43
Približná hmotnosť: 129 g (0.28 libier)
Krajina: Nemecká technická norma (Návrh)
Kategória: Technické normy DIN
Anotácia textu normy E DIN IEC 60749-40:2009-06 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 40: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen.
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
