Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method of components for handheld electronic products.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 37 : Board level kvapka Metóda komponentov pre ručné elektronických produktov.
NORMA vydaná dňa 1.12.2005
Označenie normy: E DIN IEC 60749-37:2005-12
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.12.2005
Kód tovaru: NS-303089
Počet strán: 37
Približná hmotnosť: 111 g (0.24 libier)
Krajina: Nemecká technická norma (Návrh)
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Prüfverfahren freier Fall von Bauelementen auf Leiterplatten für tragbare elektronische Geräte.
Posledná aktualizácia: 2026-06-10 (Počet položiek: 2 281 585)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.