Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
E DIN IEC 60749-35:2004-12 (Návrh)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for non-hermetic encapsulated electronic components.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 35 : Akustická mikroskopia pre non - hermetických zapuzdrovaných elektronických súčiastok.
NORMA vydaná dňa 1.12.2004
Informácie o norme:
Označenie normy: E DIN IEC 60749-35:2004-12
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.12.2004
Kód tovaru: NS-303088
Počet strán: 34
Približná hmotnosť: 102 g (0.22 libier)
Krajina: Nemecká technická norma (Návrh)
Kategória: Technické normy DIN
Anotácia textu normy E DIN IEC 60749-35:2004-12 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik.
Doporučujeme:
