Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
E DIN IEC 60749-28:2003-02 (Návrh)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Charged device model (CDM).
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 28 : elektrostatický výboj ( ESD ) testovanie citlivosti ; Nabité model zariadenia ( CDM ).
NORMA vydaná dňa 1.2.2003
Informácie o norme:
Označenie normy: E DIN IEC 60749-28:2003-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.2.2003
Kód tovaru: NS-303084
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Nemecká technická norma (Návrh)
Kategória: Technické normy DIN
Anotácia textu normy E DIN IEC 60749-28:2003-02 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD); Charged Device Model (CDM).
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
