Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Test procedures for semiconductor charged-particle detectors; identical with IEC 60333:1983.
Automaticky preložený názov:
Skúšobné postupy pre detektory nabitých častíc ; identický s IEC 60333 : 1983.
NORMA vydaná dňa 1.10.1990
Označenie normy: E DIN IEC 60333:1990-10
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.10.1990
Kód tovaru: NS-302718
Počet strán: 44
Približná hmotnosť: 132 g (0.29 libier)
Krajina: Nemecká technická norma (Návrh)
Kategória: Technické normy DIN
Prüfverfahren für Halbleiterdetektoren für geladene Teilchen.
Posledná aktualizácia: 2026-09-11 (Počet položiek: 2 300 165)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.