Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
E DIN EN IEC 60749-37:2023-02 (Návrh)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer.
NORMA vydaná dňa 1.2.2023
Informácie o norme:
Označenie normy: E DIN EN IEC 60749-37:2023-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.2.2023
Kód tovaru: NS-1100663
Počet strán: 42
Približná hmotnosť: 126 g (0.28 libier)
Krajina: Nemecká technická norma (Návrh)
Kategória: Technické normy DIN
Anotácia textu normy E DIN EN IEC 60749-37:2023-02 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung eines Beschleunigungs-Messgerätes.
Doporučujeme:
