Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
E DIN EN 62047-18:2011-06 (Návrh)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bending test methods of thin film materials.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové prístroje - Micro - elektromechanické zariadenia - Časť 18 : Ohýbanie skúšobnej metódy tenkých filmových materiálov.
NORMA vydaná dňa 1.6.2011
Informácie o norme:
Označenie normy: E DIN EN 62047-18:2011-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.6.2011
Kód tovaru: NS-292593
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Nemecká technická norma (Návrh)
Kategória: Technické normy DIN
Anotácia textu normy E DIN EN 62047-18:2011-06 :
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 18: Biegeprüfverfahren für Dünnschichtwerkstoffe.
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
