Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady state temperature humidity bias life test.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 5 : ustálený stav teplota vlhkosť zaujatosť život test.
NORMA vydaná dňa 1.6.2002
Označenie normy: E DIN EN 60749-5:2002-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.6.2002
Kód tovaru: NS-291926
Počet strán: 12
Približná hmotnosť: 36 g (0.08 libier)
Krajina: Nemecká technická norma (Návrh)
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter Vorspannung.
Posledná aktualizácia: 2026-07-01 (Počet položiek: 2 285 809)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.