Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
E DIN EN 60749-41:2017-04 (Návrh)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Reliability testing methods of non-volatile memory devices.
NORMA vydaná dňa 1.4.2017
Informácie o norme:
Označenie normy: E DIN EN 60749-41:2017-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.4.2017
Kód tovaru: NS-677970
Počet strán: 35
Približná hmotnosť: 105 g (0.23 libier)
Krajina: Nemecká technická norma (Návrh)
Kategória: Technické normy DIN
Anotácia textu normy E DIN EN 60749-41:2017-04 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Zuverlässigkeitsprüfverfahren für nichtflüchtige Speicher-Bauelemente.
Odporúčame:
Aktualizácia zákonov
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
