Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
DIN SPEC 52407:2015-03
Nanotechnologies - Methods for preparation and assessment for particle measurements with atomic force microscopy (AFM) and transmission scanning electron microscopy (TSEM).
Automaticky preložený názov:
Nanotechnológia - Metódy na prípravu a hodnotenie pre meranie častíc sa mikroskopia atomárnych síl (AFM) a prenos Snímacie elektrónové mikroskopia (TSEM).
NORMA vydaná dňa 1.3.2015
Informácie o norme:
Označenie normy: DIN SPEC 52407:2015-03
Dátum vydania normy: 1.3.2015
Kód tovaru: NS-580187
Počet strán: 23
Približná hmotnosť: 69 g (0.15 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy DIN SPEC 52407:2015-03 :
Nanotechnologien - Methoden zur Präparation und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie im Transmissionsmodus (TSEM).
Podobné normy:
1.9.2008
1.12.2012
1.6.2014
NEPLATNÁ
1.3.2015
NEPLATNÁ
1.3.2015
NEPLATNÁ
1.3.2015
Odporúčame:
Aktualizácia zákonov
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
