Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer.
NORMA vydaná dňa 1.12.2023
Označenie normy: DIN EN IEC 60749-37:2023-12
Dátum vydania normy: 1.12.2023
Kód tovaru: NS-1156577
Počet strán: 23
Približná hmotnosť: 69 g (0.15 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung eines Beschleunigungs-Messgerätes.
Posledná aktualizácia: 2026-08-31 (Počet položiek: 2 298 959)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.