Norma DIN EN IEC 60749-37:2023-12 1.12.2023 náhľad

DIN EN IEC 60749-37:2023-12

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer.



NORMA vydaná dňa 1.12.2023


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena105.40 bez DPH
105.40

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN IEC 60749-37:2023-12
Dátum vydania normy: 1.12.2023
Kód tovaru: NS-1156577
Počet strán: 23
Približná hmotnosť: 69 g (0.15 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Kategórie - podobné normy:

Polovodičová zařízení obecně

Anotácia textu normy DIN EN IEC 60749-37:2023-12 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung eines Beschleunigungs-Messgerätes.

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.