Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
DIN EN IEC 60749-34-1:2026-07
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module.
NORMA vydaná dňa 1.7.2026
Informácie o norme:
Označenie normy: DIN EN IEC 60749-34-1:2026-07
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.7.2026
Kód tovaru: NS-1270594
Počet strán: 29
Približná hmotnosť: 87 g (0.19 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Anotácia textu normy DIN EN IEC 60749-34-1:2026-07 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34-1: Leistungszyklusprüfung für Leistungshalbleitermodule.
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
