Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
DIN 51456:2013-10
Testing of materials for semiconductor technology - Surface analysis of silicon wafers by multielement determination in aqueous analysis solutions using mass spectrometry with inductively coupled plasma (ICP-MS).
Automaticky preložený názov:
Testovanie materiálov pre polovodičové technológie - Povrchová analýza kremíkových dosiek podľa multielement stanovenie vo vodných roztokoch analýzy pomocou hmotnostnej spektrometrie s indukčne viazanou plazmou (ICP-MS).
NORMA vydaná dňa 1.10.2013
Informácie o norme:
Označenie normy: DIN 51456:2013-10
Dátum vydania normy: 1.10.2013
Kód tovaru: NS-204698
Počet strán: 15
Približná hmotnosť: 45 g (0.10 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy DIN 51456:2013-10 :
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Oberflächenanalyse von Silicium-Halbleiterscheiben (Wafer) durch Multielementbestimmung in wässrigen Analysenlösungen mittels Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-MS).
Podobné normy:
NEPLATNÁ
1.11.2009
1.9.1994
1.10.2002
1.6.2003
1.10.2001
1.1.2000
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
