DIN 50451-4:2007-02..
E DIN 50451-6:2012-1..
DIN 50452-1:1995-11..
DIN 50452-3:1995-10..
Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
DIN 50455-2:1999-11
Testing of materials for semiconductor technology - Methods for the characterisation photoresists - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists.
Automaticky preložený názov:
Skúšanie materiálov na polovodičové technológie - postupy pri charakterizácii fotoresisty - Časť 2: Stanovenie na svetlo pozitívnych fotoresisty.
NORMA vydaná dňa 1.11.1999
Informácie o norme:
Označenie normy: DIN 50455-2:1999-11
Dátum vydania normy: 1.11.1999
Kód tovaru: NS-203879
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy DIN 50455-2:1999-11 :
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken - Teil 2: Bestimmung der Lichtempfindlichkeit von Positiv-Fotolacken.
Podobné normy:
NEPLATNÁ
1.2.2007
NEPLATNÁ
1.3.2010
NEPLATNÁ
1.11.2012
1.11.1995
1.10.2009
NEPLATNÁ
1.10.1995
Odporúčame:
Aktualizácia zákonov
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
