E DIN 50451-3:2012-1..
DIN 50452-1:1995-11..
Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
DIN 50455-1:2009-10
Testing of materials for semiconductor technology - Methods for characterizing photoresists - Part 1: Determination of coating thickness with optical methods.
Automaticky preložený názov:
Skúšanie materiálov na polovodičové technológie - Metódy pre charakterizáciu fotorezistu - Časť 1: Stanovenie hrúbky povlaku s optickými metódami.
NORMA vydaná dňa 1.10.2009
Informácie o norme:
Označenie normy: DIN 50455-1:2009-10
Dátum vydania normy: 1.10.2009
Kód tovaru: NS-203877
Počet strán: 8
Približná hmotnosť: 24 g (0.05 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy DIN 50455-1:2009-10 :
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken - Teil 1: Bestimmung der Schichtdicke mit optischen Messverfahren.
Podobné normy:
NEPLATNÁ
1.11.2012
NEPLATNÁ
1.4.2003
NEPLATNÁ
1.2.2007
NEPLATNÁ
1.3.2010
NEPLATNÁ
1.11.2012
1.11.1995
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
