Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Testing of materials for semiconductor technology; determination of etch rates of etching mixtures; silicium monocrystals; gravimetric method.
Automaticky preložený názov:
Skúšanie materiálov na polovodičových technológií; stanovenie sadzieb etch leptanie zmesí; kremíka monokryštálov; gravimetria.
NORMA vydaná dňa 1.10.1990
Označenie normy: DIN 50453-1:1990-10
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.10.1990
Kód tovaru: NS-203870
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung der Ätzraten von Ätzmischungen; Silicium-Einkristalle; Gravimetrisches Verfahren.
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-08-21 (Počet položiek: 2 298 377)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.