Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS ISO 25498:2018-TC
Tracked Changes. Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope.
NORMA vydaná dňa 27.2.2020
Informácie o norme:
Označenie normy: BS ISO 25498:2018-TC
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 27.2.2020
Kód tovaru: NS-987232
Počet strán: 116
Približná hmotnosť: 379 g (0.84 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
