Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS ISO 25498:2010
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope.
Automaticky preložený názov:
Analýza Microbeam. Analytická elektrónová mikroskopia. Vybrané-oblasť elektrónová difrakcia analýza pomocou transmisného elektrónového mikroskopu
NORMA vydaná dňa 30.6.2010
Informácie o norme:
Označenie normy: BS ISO 25498:2010
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 30.6.2010
Kód tovaru: NS-112965
Počet strán: 40
Približná hmotnosť: 120 g (0.26 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Odporúčame:
Aktualizácia zákonov
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
