Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS ISO 23812:2009
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials.
Automaticky preložený názov:
Povrchu chemickej analýzy. Sekundárny-ion hmotnostnej spektrometrie. Spôsob kalibrácie hĺbky po kremíku pomocou viacerých delta-vrstvy referenčné materiály
NORMA vydaná dňa 31.5.2009
Informácie o norme:
Označenie normy: BS ISO 23812:2009
Dátum vydania normy: 31.5.2009
Kód tovaru: NS-112777
Počet strán: 30
Približná hmotnosť: 90 g (0.20 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy BS ISO 23812:2009 :
ISBN: 978 0 580 55765 1 Status: Confirmed
Doporučujeme:
