Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS ISO 17560:2014
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of boron in silicon.
Automaticky preložený názov:
Povrchu chemickej analýzy. Sekundárny-ion hmotnostnej spektrometrie. Spôsob hĺbkové profilovanie bóru v kremíka
NORMA vydaná dňa 30.9.2014
Informácie o norme:
Označenie normy: BS ISO 17560:2014
Dátum vydania normy: 30.9.2014
Kód tovaru: NS-111728
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy BS ISO 17560:2014 :
ISBN: 978 0 580 85636 5 Status: Confirmed
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
