Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS ISO 17560:2002
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of boron in silicon.
Automaticky preložený názov:
Povrchová chemickej analýzy. Sekundárne - ion hmotnostnej spektrometrie. Metóda pre hĺbkové profilovanie bóru v kremíka
NORMA vydaná dňa 28.8.2002
Informácie o norme:
Označenie normy: BS ISO 17560:2002
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 28.8.2002
Kód tovaru: NS-111727
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Doporučujeme:
