Norma BS ISO 17470:2014 31.1.2014 náhľad

BS ISO 17470:2014

Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry.

Automaticky preložený názov:

Analýza Microbeam. Sonda Electron mikroanalýzy. Pokyny na analýzu kvalitatívneho hľadiska vlnovej dĺžky disperzné röntgenové spektrometria



NORMA vydaná dňa 31.1.2014


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena186.30 bez DPH
186.30

Informácie o norme:

Označenie normy: BS ISO 17470:2014
Dátum vydania normy: 31.1.2014
Kód tovaru: NS-111700
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS ISO 17470:2014 :

ISBN: 978 0 580 84121 7 Status: Revision Underway

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.