Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS ISO 17470:2014
Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry.
Automaticky preložený názov:
Analýza Microbeam. Sonda Electron mikroanalýzy. Pokyny na analýzu kvalitatívneho hľadiska vlnovej dĺžky disperzné röntgenové spektrometria
NORMA vydaná dňa 31.1.2014
Informácie o norme:
Označenie normy: BS ISO 17470:2014
Dátum vydania normy: 31.1.2014
Kód tovaru: NS-111700
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy BS ISO 17470:2014 :
ISBN: 978 0 580 84121 7 Status: Revision Underway
Podobné normy:
NEPLATNÁ
12.8.2004
NEPLATNÁ
31.3.2013
31.10.2011
NEPLATNÁ
28.2.2007
30.4.2013
NEPLATNÁ
30.4.2013
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
