Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS ISO 17470:2004
Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry.
Automaticky preložený názov:
Analýza Microbeam. Sonda Electron mikroanalýza. Pokyny na analýzu kvalitatívne bod podľa vlnovej dĺžky disperzné röntgenovou spektrometrie
NORMA vydaná dňa 29.9.2004
Informácie o norme:
Označenie normy: BS ISO 17470:2004
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 29.9.2004
Kód tovaru: NS-111699
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
