Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Surface chemical analysis. Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy.
NORMA vydaná dňa 30.9.2010
Označenie normy: BS ISO 17331:2004+A1:2010
Dátum vydania normy: 30.9.2010
Kód tovaru: NS-967336
Počet strán: 28
Približná hmotnosť: 84 g (0.19 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 64479 5 Status: Definitive
Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !
Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-09-08 (Počet položiek: 2 300 134)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.