Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Tracked Changes. Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter dept profiling using single and multi-layer thin films.
NORMA vydaná dňa 3.1.2023
Označenie normy: BS ISO 17109:2022-TC
Dátum vydania normy: 3.1.2023
Kód tovaru: NS-1098761
Počet strán: 68
Približná hmotnosť: 204 g (0.45 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
ISBN: 978 0 539 24254 6 Status: Definitive
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-09-04 (Počet položiek: 2 300 131)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.